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「上海烨映微电子科技股份有限公司」共参与 2 项标准
国标 2 项
📊 生成企业对标报告
国家标准
2
GB/T 42709.21-2026
国标
半导体器件 微电子机械器件 第21部分:MEMS薄膜材料泊松比测试方法
起草单位
状态:即将实施
GB/T 42709.38-2026
国标
半导体器件 微电子机械器件 第38部分:MEMS互连中金属粉末膏体粘附强度测试方法
起草单位
状态:即将实施