国标现行
GB/Z 37664.3-2025
纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
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深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司牵头中国计量大学国家纳米科学中心广纳珈源（广州）科技有限公司杭州美联医学股份有限公司复旦大学义乌研究院北京北达聚邦科技有限公司南开大学纳晶科技股份有限公司天美仪拓实验室设备（上海）有限公司
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