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「哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司」共参与 12 项标准
团标 6 项
国标 6 项
📊 生成企业对标报告
国家标准
6
团体标准
6
GB/T 30868-2025
国标
碳化硅单晶片微管密度测试方法
起草单位
状态:现行
GB/T 24578-2024
国标
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
起草单位
状态:现行
GB/T 43885-2024
国标
碳化硅外延片
起草单位
状态:现行
GB/T 43612-2023
国标
碳化硅晶体材料缺陷图谱
起草单位
状态:现行
GB/T 42676-2023
国标
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
起草单位
状态:现行
GB/T 1555-2023
国标
半导体单晶晶向测定方法
起草单位
状态:现行