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「河北半导体研究所(中国电子科技集团公司第十三研究所)」共参与 3 项标准
国标 3 项
📊 生成企业对标报告
国家标准
3
GB/T 43493.2-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法
主要起草单位
状态:现行
GB/T 43493.3-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法
主要起草单位
状态:现行
GB/T 43493.1-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类
主要起草单位
状态:现行