ＴＣＬ环鑫半导体（天津）有限公司参编了 4 项标准 | 万企标准网

‹ 返回查询结果

「ＴＣＬ环鑫半导体（天津）有限公司」共参与 4 项标准

国标 4 项

📊 生成企业对标报告

GB/T 44558-2024国标

III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法起草单位

状态：现行

GB/T 43885-2024国标

碳化硅外延片起草单位

状态：现行

GB/T 43493.1-2023国标

半导体器件功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据第1部分：缺陷分类起草单位

状态：现行

GB/T 43313-2023国标

碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法起草单位

状态：现行