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「无锡韦感半导体有限公司」共参与 4 项标准
国标 4 项
📊 生成企业对标报告
国家标准4
GB/T 44842-2024国标
微机电系统（MEMS）技术 薄膜材料的弯曲试验方法 起草单位
状态：现行
GB/T 44517-2024国标
微机电系统（MEMS）技术 MEMS膜残余应力的晶圆曲率和悬臂梁挠度试验方法 起草单位
状态：现行
GB/T 42897-2023国标
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 起草单位
状态：现行
GB/T 42895-2023国标
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法 起草单位
状态：现行