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「浙江中晶科技股份有限公司」共参与 6 项标准
国标 6 项
📊 生成企业对标报告
国家标准
6
GB/T 11073-2025
国标
硅片径向电阻率变化测量方法
起草单位
状态:现行
GB/T 19444-2025
国标
硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法
起草单位
状态:现行
GB/T 14264-2024
国标
半导体材料术语
起草单位
状态:现行
GB/T 6616-2023
国标
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
起草单位
状态:现行
GB/T 26069-2022
国标
硅单晶退火片
起草单位
状态:现行
GB/T 12962-2015
国标
硅单晶
起草单位
状态:现行