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「天津中环领先材料技术有限公司」共参与 7 项标准
国标 7 项
📊 生成企业对标报告
国家标准7
GB/T 43894.2-2026国标
半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分：边缘卷曲法（ROA） 起草单位
状态：现行
GB/T 1558-2023国标
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法 起草单位
状态：现行
GB/T 42789-2023国标
硅片表面光泽度的测试方法 起草单位
状态：现行
GB/T 6616-2023国标
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 起草单位
状态：现行
GB/T 32280-2022国标
硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法 起草单位
状态：现行
GB/T 31472-2015国标
X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南 起草单位
状态：现行
GB/T 31470-2015国标
俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则 起草单位
状态：现行