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「河北普兴电子科技股份有限公司」共参与 10 项标准
国标 10 项
📊 生成企业对标报告
国家标准
10
GB/T 47082-2026
国标
碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
起草单位
状态:现行
GB/T 44334-2024
国标
埋层硅外延片
起草单位
状态:现行
GB/T 43885-2024
国标
碳化硅外延片
起草单位
状态:现行
GB/T 43493.2-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法
起草单位
状态:现行
GB/T 43612-2023
国标
碳化硅晶体材料缺陷图谱
起草单位
状态:现行
GB/T 43493.3-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法
起草单位
状态:现行
GB/T 43493.1-2023
国标
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类
起草单位
状态:现行
GB/T 42905-2023
国标
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
起草单位
状态:现行
GB/T 42902-2023
国标
碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
起草单位
状态:现行
GB/T 14146-2021
国标
硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
起草单位
状态:现行