中国科学院微电子研究所参编了 127 项标准 | 万企标准网

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「中国科学院微电子研究所」共参与 127 项标准

团标 58 项国标 51 项地标 1 项行标 17 项

📊 生成企业对标报告

国家标准51 行业标准17 团体标准58 地方标准1

GB/T 48096-2026国标

微机电结构动态位移参数的激光多普勒测量方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 48095-2026国标

高深宽比微结构形貌参数显微干涉测量方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 48168-2026国标

半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 42709.29-2026国标

半导体器件微电子机械器件第29部分：室温下悬空导电薄膜的机电松弛试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 48179-2026国标

集成电路电子设计自动化工具术语起草单位

状态：即将实施

GB/T 34614-2026国标

光伏玻璃温和气候下城市环境自然曝露试验方法及性能评价起草单位

状态：即将实施

GB/Z 46809.2-2026国标

半导体器件第19-2部分：智能传感器低功耗运行的智能传感器及电源的规格说明起草单位

状态：现行

GB/T 42709.12-2026国标

半导体器件微电子机械器件第12部分：采用MEMS结构谐振法的薄膜材料弯曲疲劳试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 42709.8-2026国标

半导体器件微电子机械器件第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 42709.6-2026国标

半导体器件微电子机械器件第6部分：薄膜材料轴向疲劳试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 42709.36-2026国标

半导体器件微电子机械器件第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐压试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 47857-2026国标

空间环境宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法起草单位

状态：即将实施

GB/T 47725-2026国标

微机电系统（MEMS）技术硅通孔三维结构可靠性评价要求起草单位

状态：即将实施

GB/T 47424-2026国标

基于移动通信网络的北斗精密单点定位（PPP）服务技术要求与测试方法起草单位

状态：现行

GB/T 42706.9-2026国标

电子元器件半导体器件长期贮存第9部分：特殊情况起草单位

状态：即将实施

GB/T 46567.2-2026国标

智能计算忆阻器测试方法第2部分：线性度主要起草单位

状态：即将实施

GB/T 42706.8-2026国标

电子元器件半导体器件长期贮存第8部分：无源电子器件起草单位

状态：现行

GB/T 4937.9-2026国标

半导体器件机械和气候试验方法第9部分：标志耐久性起草单位

状态：现行

GB/T 4937.28-2026国标

半导体器件机械和气候试验方法第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试带电器件模型（CDM）器件级起草单位

状态：现行

GB/Z 119-2026国标

晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测起草单位

状态：现行